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zeta電位及粒度分析儀

簡要描述:zeta電位及粒度分析儀:帶相位分析的多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS)

  • 更新時(shí)間:2024-08-26
  • 瀏覽次數(shù):3518
詳細(xì)介紹
品牌PSS分散方式濕法分散
價(jià)格區(qū)間面議儀器種類動(dòng)態(tài)光散射
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥
粒度范圍0.3nm--10.0μmZeta電位范圍-500mV?--?+500mV

zeta電位及粒度分析儀簡介:

在原有的經(jīng)典型號380ZLS基礎(chǔ)上升級配套而來,采用動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。

zeta電位及粒度分析儀

zeta電位及粒度分析儀

zeta電位及粒度分析儀技術(shù)優(yōu)勢

1、高靈敏度PMT檢測器;

2、可搭配不同功率光源;

3、準(zhǔn)確度高,接近樣品真實(shí)值;

4、可測試水相及有機(jī)相樣品的粒度及Zeta電位;

5、快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù);

6、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);

7、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求;

8、無需校準(zhǔn);

9、復(fù)合型算法:

(1)高斯(Gaussion)正態(tài)粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換

(2)頻率(Frequency)Zeta電位分析法與*的相位(Phase)分析法自由切換

10、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級;

(1)可自動(dòng)稀釋模塊(選配);

(2)自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);

(3)搭配多角度檢測器(選配);

優(yōu)勢:模塊化設(shè)計(jì)

Nicomp Z3000納米激光粒度儀是全*在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的*進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級和增加,Nicomp 的功能體系越來越強(qiáng)大,可以用于各種復(fù)雜體系的檢測分析。

選配 21CFR Part 11法規(guī)軟件——符合cGMP要求

Nicomp系列儀器全系配備了符合美國聯(lián)邦法規(guī)21章第11款(21 CFR PART11)要求的軟件。具有數(shù)據(jù)自動(dòng)備份,審計(jì)追蹤,權(quán)限分級,電子簽名,可連接Lims系統(tǒng)等多項(xiàng)功能。

中國食品藥品監(jiān)督管理局(NMPA)有政策趨勢將對醫(yī)藥研發(fā)企業(yè)實(shí)施規(guī)范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法規(guī)的軟件更能符合現(xiàn)在GLP/GMP的要求。

 

 
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